首页 新闻资讯 技术资料 论坛 网站地图
工业控制 数控系统 通信产品 嵌入式软件 CPLD/FPGA 计算机外设 安防产品
电子元器件搜索:
IC库存(8958万) PDF资料(329万) IC价格 IC求购 资讯 技术资料
维库电子市场网是知名的电子元器件交易网站, 为电子生产企业提供IC库存和技术资料查询服务。
位置: 首页 > 详细信息
  存储器测试修补电路插入新方法出炉,缩短系统IC设计周期
出处: 时间: 2007-11-16

       Genesys Testware公司近日宣布,把嵌入式存储器测试和修补电路自顶向下插入ArraytestMaker嵌入式存储器修补工具之中。Genesys表示,现有可用的工具采用自底向上的方法插入嵌入式存储器测试电路,花费的时间长达几周;Genesys的自顶向下方案使系统IC设计工程师只要几天时间就能插入存储器测试和修补电路,在效率上没有折衷。

       芯片设计服务提供商Network Silicon公司的总裁Vinod Sutrave说,新工具的功能使他的公司能够那测试和修补电路插入到系统IC的几百个存储器中。Sutrave表示,在Genesys公司的ArraytestMaker中,这种新的插入方式已被集成到Cadence、Synopsys和Magma流行的IC实现平台之中。

       据Genesys,系统IC设计工程师采用ArraytestMaker之后,就可以指定存储器的命名习惯、确定存储器之间共享测试和修补电路的方针、以及用紧凑的脚本为把可测试存储器互连起来制定策略。

关闭】 【打印
相关专题  
军工/航空航天
数控系统
嵌入式系统
计算机外设
综合电子技术
嵌入式硬件
开发工具
消费电子
传感控制
医疗电子
电源系列
嵌入式开发新闻
接口电路
通信产品
测试测量
工业控制
SOPC
AD/DA
嵌入式软件
CPLD/FPGA
软件开发
汽车电子
存储器
应用产品
安防产品

© 2007 百斯嵌入式开发网 网站地图