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嵌入式开发专题列表

·“十一五”电子测试测量技术与市场分析 [2007-11-20]

·NI第四届基于计算机的测试测量和自动化征文竞赛顺利闭幕 [2007-11-20]

·LabVIEW 7 Express荣获《Design News》杂志年度最佳测试、测量和控制产品大奖 [2007-11-20]

·NI在Intel开发者论坛上预先展示了首个基于PCI Express的测试测量产品 [2007-11-20]

·NI LabWindows/CVI 7.1加快了测试测量应用中ANSI C的开发 [2007-11-20]

·测试测量行业全面发展，RIGOL虚拟仪器再争高点 [2007-11-20]

·本土测试测量企业开启国际化道路 [2007-11-20]

·RIGOL呼吁测试测量行业提高知识产权意识 [2007-11-20]

·第十一届国际工业自动化与控制技术第十一届中国国际传感器、测试测量展览会 [2007-11-20]

·普源精电生产基地落成，致力于测试测量仪器研发 [2007-11-16]

·Actel单芯片FPGA获Elan青睐，用于USB测试/测量设备 [2007-11-16]

·全球十佳测试测量设备制造公司近日出炉 [2007-11-16]

·亚太无线测试测量设备市场复合年增18.8% [2007-11-16]

·多种测试仪器总线共存，测试测量设备向标准化和模块化发展 [2007-11-16]

·测试测量仪器技术进入2.0时代 [2007-11-16]

·第十届国际工业自动化与控制技术展览会及第十届中国国际传感器、测试测量展览会 [2007-11-16]

·电子测试测量技术与市场分析 [2007-11-15]

·通信测试测量市场渐趋完善 [2007-11-15]

·中国测试测量企业：放眼未来，做眼前的事 [2007-11-15]

·2006年第四季度十大热门测试测量新品评析 [2007-11-15]

·测试测量市场渐趋完善 [2007-11-15]

·做测试测量专家，而不仅仅是硬件供应商 [2007-11-15]

·2007年第二季度十大热门测试测量新品评析 [2007-11-15]

·06年测试测量行业：平静中冲击目标 [2007-11-15]

·美国理想携全线测试测量产品亮相全国电子展 [2007-11-15]

·NI表示：测试测量仪器技术进入2.0时代 [2007-11-15]

·普源精电DM3000系列数字万用表：精确测试测量的重要工具 [2007-11-15]

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